Takahashi K., Shiohara Y., Yamada Y., Miyata S., Kuriki R., Ibi A.(ibi@istec.or.jp), Fukushima H.
Li Y., Xiong X., Qiao Y., Xie Y., Reeves J.L., Chen Y., Lenseth K.P., Schmidt R.M., Selvamanickama V.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, IBAD process, buffer layers, template layers, long conductors, fabrication, length
Christen D.K., Hawsey R.A.(hawseyra@ornl.gov)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, review, YBCO, PLD process, MOCVD process, TFA-MOD process, IBAD process, long conductors, fabrication
Takahashi K., Yamada Y.(yyamada@istec.or.jp), Miyata S., Konishi M., Kuriki R., Ibi A., Kobayashi H., Fukushima H., Ishida S., Kato T.*2 et al.
Kakimoto K., Sutoh Y., Ajimura S., Saitoh T.(tsaitoh@fujikura.co.jp), Kaneko N., Hanyu S., Iijima Y.(iijimay@fujikura.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, long conductors, fabrication, length
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp), Mori M.(Mori.Masami2@chuden.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, CVD process, multistage process, IBAD process, MOCVD process, long conductors, high rate process, fabrication
Teranishi R., Fuji H., Aoki Y., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, TFA-MOD process, long conductors, review, YBCO, critical current, thickness dependence, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Miyata S., Nakaoka K., Kitoh Y., Aoki Y.(y-aoki@istec.or.jp), Nomoto S., Matuda J.
Muroga T., Fuji H., Izumi T., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Konishi M., Machi T., Ibi A., Kitoh Y., Nakao K.(nakao@istec.or.jp), Aokia Y., Shioharaa Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, YBCO, current distribution, Hall sensor, measurement technique
Fuji H., Izumi T., Aoki Y., Yamada Y.(yamada@istec.or.jp), Nakao K., Chikumoto N., Ibi A., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, optical imaging, measurement technique, length
Nakamura T., Yamada M., Hirano S., Takano Y., Saito A., Takeishi K., Suzuki T., Sekiya N., Yoko M., Ohshima S.(ohshima@yz.yamagata-u.ac.jp), Watanabe T.(watanabe@te.noda.sut.ac.jp)
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Hata R., YAMADE S., UENOA E.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, fabrication, PIT process, long conductors, critical current, critical caracteristics
Ключевые слова: fabrication, long conductors, substrate metallic, reel-to-reel process, HTS, patents
Kimura A., Kimura H., Yagi Y., Yagi M., Mukoyama S.(mukoyama@ch.furukawa.co.jp), Maruyama S., Ishii N., Sato O., Amemiya M.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, cables, long conductors, test results, fabrication, power equipment
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Ajimura S.(sajimura@fujikura.co.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, IBAD process, YBCO, PLD process, reel-to-reel process, long conductors, coils, critical current, thickness dependence, critical current distribution, homogeneity, current-voltage characteristics, upper critical fields, critical caracteristics, fabrication, power equipment, substrate Hastelloy, magnetic properties
Li Y., Xiong X., Qiao Y., Reeves J., Xie Y., Knoll A., Lenseth K., Selvamanickam V., Chen Y., Salagaj T., Hazelton D., Reis C., Yumura H., Weber C.
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Ibi A.(ibi@istec.or.jp), Katoh T.(tkato@jfcc.or.jp), Hirayama T.(hirayama@jfcc.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, critical current, PLD process, reel-to-reel process, long conductors, IBAD process, critical caracteristics, fabrication, length
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.